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泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

  • 更新時(shí)間:2024-06-05
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泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀
CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀,具有測量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有**的新型關(guān)聯(lián)算法,來(lái)查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界**的非接觸式尺寸測量功能和先進(jìn)的厚薄膜測量技術(shù)。

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品牌TaylorHobson/英國泰勒霍普森價(jià)格區間面議
產(chǎn)品種類(lèi)非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口
應用領(lǐng)域化工,電子,印刷包裝,航天,汽車(chē)

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀


一;HD適合用于制造和研究領(lǐng)域,可測量厚度至1.5微米的厚膜及厚度至50納米的薄膜涂層。

CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀,具有測量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有**的新型關(guān)聯(lián)算法,來(lái)查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界**的非接觸式尺寸測量功能和先進(jìn)的厚薄膜測量技術(shù)。CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能,還可以提供兩種類(lèi)型的膜厚測量。 近年來(lái)厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料;測量的厚度限制取決于材料的折射率和標的物的 NA。 測量較薄的涂層被證實(shí)為難度更高?,F在通過(guò)干涉測量法可以研究厚度至 50 納米(同樣取決于折射率)的薄膜涂層。 采用這種新型方法,可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

1.2048 x 2048像素陣列,視場(chǎng)廣,高分辨率
2.全量程0.1埃的分辨率
3.適用于0.3% - 100%的表面反射率
4.<0.2?strom RMS重復性,<0.1%臺階高度重復性
5.多語(yǔ)言版本的64位控制和分析軟件
6.2.2 mm垂直范圍,帶閉環(huán)無(wú)壓電Z軸掃描儀
7.AutoStitch作為標準配置,可高分辨率測量大型零件

二:CCI MP-HS非常適合用于研究領(lǐng)域,從非常粗糙的表面到非常光滑的表面,任何類(lèi)型的表面它都能測量,因而具備測量各種元件的能力。

無(wú)論測量的是何種元件,無(wú)論對分析速度的要求有多高,我們創(chuàng )新的CCI MP-HS非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 一百萬(wàn)高速相機與1/10埃垂直分辨率相結合,無(wú)論是測量非常粗糙的表面,還是測量非常光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細分析。CCI MP-HS大大地擴展了分析能力,同時(shí)又不至于讓分析程序變得更復雜。 您可以測量各種各樣的元件和表面,不需要進(jìn)行復雜的測量模式切換,也不會(huì )給中間透鏡的校準增加額外的負擔。 通過(guò)標準化的方法、程序和報告,CCI MP-HS可輕松地整合到您的質(zhì)量管理系統中。

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

1.1048 x 1048像素陣列,視場(chǎng)廣,高分辨率
2.高級X、Y、Z拼接,擴展量程
3.RMS重復精度<0.2 埃,階躍高度重復精度<0.1%
4.整合抗振,優(yōu)化抗噪性能
5.多語(yǔ)言版本的Windows,64位軟件

三:CCI MP 是一種多功能的非接觸式 3D 輪廓儀,可測量拋光表面、粗糙表面、曲面、平面或臺階面。

CCI MP是一種高級的測量干涉儀(非接觸式3D輪廓儀)。 它采用享有**的新型關(guān)聯(lián)算法,來(lái)查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。CCI MP對于很多需要進(jìn)行高精度3D輪廓分析的應用非常有用。 轉臺上可以同步裝配各種各樣的標的物,因而可測量多種類(lèi)型的表面。 自動(dòng)的工作臺和自動(dòng)測量程序進(jìn)一步增強了測量的靈活性。CCI MP非接觸式3D輪廓儀的一個(gè)關(guān)鍵優(yōu)勢就是功能多、用途廣。 反射率為0.3%至100%的拋光表面、粗糙表面、曲面、平面或臺階面,都能使用一種算法進(jìn)行測量,不需要為不同的表面改變模式,也不用擔心會(huì )選擇錯誤的模式。 可測量的材料類(lèi)型包括: 玻璃、液體墨水、光刻膠、金屬、聚合物和糊劑。

泰勒·霍普森CCI HD非接觸式白光干涉輪廓儀

1.1048 x 1048像素陣列,視場(chǎng)廣,高分辨率
2.經(jīng)過(guò)改良的新型X、Y、Z拼接,量程多達100毫米
3.RMS重復精度<0.2埃,階躍高度重復精度<0.1%
4.全量程埃級分辨率
5.多語(yǔ)言版本的Windows 7,64位軟件



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